沉积技术

化学气相沉积

基于前驱气体反应的保形、高通量薄膜制备——涵盖 LPCVD、快速退火与扩散炉工艺

核心沉积技术半导体器件用多晶硅、非晶硅及外延…基于 TEOS、二氯硅烷或硅烷化…用于钝化与掩膜的氮化硅及氮氧化硅…
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化学气相沉积
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化学气相沉积:基于前驱气体反应的保形、高通量薄膜制备——涵盖 LPCVD、快速退火与扩散炉工艺。 化学气相沉积(CVD)通过前驱气体在基片表面发生化学反应生成薄膜,而非像 PVD 那样从固体源物理输运材料。

01 · 技术概览

化学气相沉积(CVD)通过前驱气体在基片表面发生化学反应生成薄膜,而非像 PVD 那样从固体源物理输运材料。源气体经气体管理系统计量后送入加热的石英管,在强制对流与自然对流的共同作用下流经基片,工作压强处于大气压或略低于大气压,流速处于层流范围。

由于沉积由表面化学反应驱动而非直线视距输运,CVD 能在形貌不规则的表面上生成保形薄膜,并可在单炉次中对大量紧密排布的基片进行镀膜。Angstrom Engineering 基于其 LPCVD 炉管平台提供 CVD 能力,涵盖热 LPCVD、快速热退火(RTA)和扩散炉工艺,可制备多晶硅、非晶硅与外延硅、二氧化硅、氮化硅与氮氧化硅、硅锗等薄膜。

  • 在大气压或略低于大气压下运行,无需高真空泵组
  • 在无需有毒气体管理时,基础设施成本低于 PVD
  • 非视距沉积特性可在形貌不规则的基片上获得保形薄膜
  • 单批次可对大量紧密排布的基片镀膜,产能高
  • LPCVD 热壁反应器可同时处理大量基片;冷壁反应器在热力学上使沉积优先发生在基片而非管壁
典型应用
半导体器件用多晶硅、非晶硅及外延硅膜层基于 TEOS、二氯硅烷或硅烷化学体系的二氧化硅介电层用于钝化与掩膜的氮化硅及氮氧化硅薄膜面向先进器件工程的硅锗(SiGe)薄膜离子注入后退火,修复晶格损伤并激活掺杂形成接触电阻极低、I-V 特性线性的欧姆接触通过短时高温暴露实现薄膜晶化硅片热氧化生长,用于栅氧化层与钝化层晶圆掺杂与推结扩散,实现目标掺杂分布通过常压 CVD 高速沉积极硬冶金涂层,用于金属加工刀具
02 · 核心能力

工作原理与工程实现

以下内容介绍相关工艺原理与工程实现。

01

概述:CVD 的工作原理

在 CVD 工艺中,前驱气体发生反应,在基片上生成固态薄膜。气体经气体管理系统输送至加热石英管的进气端,由强制对流(外部驱动的流动)和自然对流(热驱动的流动)共同将反应物输运通过反应器。系统在大气压或略低于大气压下运行,流速保持在层流范围内。当气流掠过基片时,剪切力形成速度梯度:气体流速在基片表面处趋近于零,形成边界层,反应物分子必须扩散穿过该边界层才能到达表面并发生反应。 这种由化学反应驱动的生长模式赋予 CVD 相对物理气相沉积(PVD)的两大核心优势。其一,CVD 的工作压强远高于 PVD,无需高真空泵组,在不涉及有毒气体管理的情况下可显著降低基础设施成本。其二,沉积不受直线视距限制:反应物可到达所有暴露表面,在形貌不规则的基片上形成保形薄膜,并允许大量紧密排布的基片在同一批次中获得均匀镀膜。 CVD 常规沉积的薄膜包括:多晶硅、非晶硅和外延硅;由 TEOS、二氯硅烷或硅烷化学体系制备的二氧化硅;氮化硅与氮氧化硅;以及硅锗合金。

02

热 LPCVD(低压化学气相沉积)

低压化学气相沉积(LPCVD)在减压条件下运行,反应需要更高的温度才能进行,但换来的是高度精密、均匀的薄膜。按加热方式的不同,LPCVD 反应器分为两种架构。 在热壁反应器中,炉管四周布置加热元件,以辐射方式加热管内全部物料。由于管壁处于工艺温度,沉积物不仅生长在基片上,也会在管壁上积累,因此热壁炉管需要更频繁的维护。其补偿性优势在于产能:可同时装载大量基片,单批次完成处理。在冷壁反应器中,仅基片本身被加热。由于每片基片都需要独立的加热配置,单次可装载的样品较少,但此时热力学条件有利于沉积发生在高温基片上而非温度较低的管壁上——这正是理想情形,因为工艺热力学最终决定沉积物优先生长在基片还是管壁上。 作为补充,常压 CVD 反应器同样存在,用于以高速率沉积极硬的冶金涂层,在金属加工刀具生产中十分常见。Angstrom Engineering 将热 LPCVD 作为其 CVD 平台的一部分提供,强调反应器的高可靠性与高性能。

03

快速退火(RTP / RTA)

快速热处理(RTP)采用灯管加热方式,在受控气氛中对单片晶圆逐片处理。晶圆被极快地加热和冷却,在限制其高温暴露总量的同时提升了制造产能。由于快速升温过程中产生的热应力可能相当显著,合理设计的热工艺曲线至关重要,且通常采用受控冷却来管理整个循环中的应力。 RTP 有三大主要应用。其一是离子注入后退火:注入过程中被加速至 keV 能级的掺杂原子最终停留在晶格间隙位置,并造成晶格损伤。快速加热使原子发生局域扩散、恢复晶格有序,在消除注入缺陷的同时将掺杂原子移至替位位置,使其形成共价键并向能带结构贡献载流子。其二是欧姆接触形成:热量驱动金属向下层材料扩散,与基片表层形成合金;所得欧姆接触具有极低的接触电阻和线性的电流-电压特性。其三是薄膜晶化:短时间的高温暴露使沉积薄膜再结晶或合金化——这一方法使那些无法承受持续加热的器件叠层和材料也能接受高温处理。

04

扩散炉

扩散炉在中等真空条件下提供高温持续热处理。炉体尺寸较大,单次装载可容纳大量基片,是半导体制造中批量热工艺步骤的主力设备。 扩散炉主要承担两大类工艺。一是硅的热氧化生长:在极高温度下通入含氧气体,所生长的氧化层在介电性能和形貌质量方面均非常优异——这也是热生长 SiO2 至今仍是栅氧化层和钝化氧化层标杆的原因。二是掺杂工艺,分两个阶段进行:首先将晶圆暴露于掺杂原子流中,掺杂源可以是固态或液态源的升华/蒸发,也可以是气态源;随后对晶圆加热足够长的时间,将掺杂原子向内推进,以获得目标掺杂分布。高持续温度、中等真空与大批量装载能力相结合,使扩散炉能够制备氧化层与掺杂分布均得到精确控制的高质量半导体结构。

03 · 技术优势

技术优势

  • 在大气压或略低于大气压下运行,无需高真空泵组
  • 在无需有毒气体管理时,基础设施成本低于 PVD
  • 非视距沉积特性可在形貌不规则的基片上获得保形薄膜
  • 单批次可对大量紧密排布的基片镀膜,产能高
  • LPCVD 热壁反应器可同时处理大量基片;冷壁反应器在热力学上使沉积优先发生在基片而非管壁
  • 快速退火在提升产能的同时限制了每片晶圆的总热暴露量
  • RTA 使无法承受持续加热的材料与器件叠层也能完成高温工艺步骤
  • 扩散炉生长的热氧化层具有非常优异的介电性能与形貌质量
  • 可沉积材料体系广泛:多晶硅、非晶硅/外延硅、SiO2(TEOS、二氯硅烷、硅烷体系)、氮化硅/氮氧化硅及 SiGe
常见问题

关于化学气相沉积的常见问题

化学气相沉积适合哪些材料与应用?
典型应用包括:半导体器件用多晶硅、非晶硅及外延硅膜层、基于 TEOS、二氯硅烷或硅烷化学体系的二氧化硅介电层、用于钝化与掩膜的氮化硅及氮氧化硅薄膜、面向先进器件工程的硅锗(SiGe)薄膜、离子注入后退火,修复晶格损伤并激活掺杂、形成接触电阻极低、I-V 特性线性的欧姆接触 等。具体技术路线需要结合材料、基片热预算、膜质与器件结构综合判断。
化学气相沉积的主要优势是什么?
在大气压或略低于大气压下运行,无需高真空泵组。 在无需有毒气体管理时,基础设施成本低于 PVD。 非视距沉积特性可在形貌不规则的基片上获得保形薄膜。 单批次可对大量紧密排布的基片镀膜,产能高。
哪些 Angstrom Engineering 平台支持化学气相沉积?
Nexdep、EvoVac、Amod、Box Coater 与 Nebula Cluster 等平台均可按需配置该工艺;紧凑实验室可从 Covap、Nexdep 起步,复杂多层器件可选 EvoVac 或多腔集群。具体以材料体系与样品尺寸确定。
如何为该工艺获取设备配置与报价?
设备价格由工艺、真空、沉积源、样品台、监测、自动化与厂务条件共同决定。建议通过网站表单提供目标薄膜、基片尺寸、膜厚均匀性要求与项目阶段,我们会协助整理配置边界并对接原厂形成报价。
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